單片機(jī)的EMC測(cè)試及EMC故障排除
摘要：講述EMC的定義，EMC在單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的測(cè)試方法，EMC新器件新材料的應(yīng)用以及故障排除技術(shù)。只要從事電子產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)或者供應(yīng)，就必須進(jìn)行EMC電磁兼容的檢測(cè)工作。關(guān)鍵詞：EMC測(cè)試 EMC故障排除 EMC新器件應(yīng)用 單片機(jī)
引言
所謂EMC就是：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作，且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。EMC測(cè)試包括兩大方面內(nèi)容：對(duì)其向外界發(fā)送的電磁騷擾強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試，以便確認(rèn)是否符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限制值要求；對(duì)其在規(guī)定電磁騷擾強(qiáng)度的電磁環(huán)境條件下進(jìn)行敏感度測(cè)試，以便確認(rèn)是否符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的抗擾度要求。對(duì)于從事單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)設(shè)計(jì)的工程技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，掌握一定的EMC測(cè)試技術(shù)是十分必要的。EMC是電磁兼容（Electro-Magnetic Compatibility）的縮寫，它包括電磁干擾（EMI）和電磁敏感性（EMS）兩部分。由于電器產(chǎn)品在使用時(shí)對(duì)其它電器有電磁干擾，或受到其它電器的電磁干擾，它不僅關(guān)系到產(chǎn)品工作的可靠性和安全性，還可能影響其它電器的正常工作，甚至導(dǎo)致安全危險(xiǎn)。
1 單片機(jī)系統(tǒng)EMC測(cè)試
（1）測(cè)試環(huán)境
為了保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和可靠性，電磁兼容性測(cè)量對(duì)測(cè)試環(huán)境有較高的要求，測(cè)量場(chǎng)地有室外開(kāi)闊場(chǎng)地、屏蔽室或電波暗室等。
（2）測(cè)試設(shè)備
電磁兼容測(cè)量設(shè)備分為兩類：一類是電磁干擾測(cè)量設(shè)備，設(shè)備接上適當(dāng)?shù)膫鞲衅鳎涂梢赃M(jìn)行電磁干擾的測(cè)量；另一類是在電磁敏感度測(cè)量，設(shè)備模擬不同干擾源，通過(guò)適當(dāng)?shù)鸟詈?去耦網(wǎng)絡(luò)、傳感器或天線，施加于各類被測(cè)設(shè)備，用作敏感度或干擾度測(cè)量。
（3）測(cè)量方法
電磁兼容性測(cè)試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的不同，有許多種測(cè)量方法，但歸納起來(lái)可分為4類；傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試、輻射發(fā)射測(cè)試、傳導(dǎo)敏感度（抗擾度）測(cè)試和輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試。
（4）測(cè)試診斷步驟
圖1給出了一個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的電磁干擾發(fā)射與故障分析步驟。按照這個(gè)步驟進(jìn)行，可以提高測(cè)試診斷的效率。
（5）測(cè)試準(zhǔn)備
①試驗(yàn)場(chǎng)地條件：EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室為電波半暗室和屏蔽室。前者用于輻射發(fā)射和輻射敏感測(cè)試，后者用于傳導(dǎo)發(fā)射和傳導(dǎo)敏感度測(cè)試。
②環(huán)境電平要求：傳導(dǎo)和輻射的電磁環(huán)境電平最好遠(yuǎn)低于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值，一般使環(huán)境電平至少低于極限值6dB。
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