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一種用于輝光放電光譜深度分析的激光實(shí)時(shí)測(cè)量新方法
摘要：輝光放電原子發(fā)射光譜儀可用于物質(zhì)表面化學(xué)成分隨深度分布的分析,在鍍層分析、金屬材料檢驗(yàn)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用.文章介紹了輝光深度分析的傳統(tǒng)方法和局限性以及實(shí)時(shí)深度測(cè)量技術(shù)的'近期研究,提出了一種用于輝光放電光譜深度分析的激光實(shí)時(shí)測(cè)量新方法.文章采用激光位移傳感器和根據(jù)激光測(cè)最方法設(shè)計(jì)的輝光放電光源構(gòu)成實(shí)時(shí)深度測(cè)量系統(tǒng),詳細(xì)闡述了系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案和技術(shù)原理.系統(tǒng)的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)能夠?qū)崿F(xiàn)在輝光光譜分析的同時(shí)進(jìn)行激光實(shí)時(shí)濺射深度的測(cè)量.通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證和分析了激光實(shí)時(shí)測(cè)量樣品濺射深度過(guò)程中產(chǎn)生的光源位移現(xiàn)象.采用雙激光器實(shí)時(shí)深度測(cè)量系統(tǒng)對(duì)鋅合金標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行了濺射深度的實(shí)時(shí)測(cè)量,給出了實(shí)時(shí)深度測(cè)最曲線.通過(guò)將濺射面測(cè)量曲線與參考面曲線進(jìn)行疊加,得到了樣品濺射坑深度的實(shí)際值,與Dektak8型表面形貌儀測(cè)量結(jié)果一致. 作者： 萬(wàn)真真[1]李小佳[1]王永清[2]施宇[3]孫榮霞[2] Author： WAN Zhen-zhen[1] LI Xiao-jia[1] WANG Yong-qing[2] SHINing[3] SUN Rong-xia[2] 作者單位： 鋼鐵研究總院,國(guó)家鋼鐵材料測(cè)試中心,北京100081河北大學(xué)電子信息工程學(xué)院,河北保定,071002北京航空航天大學(xué)軟件學(xué)院,北京,100191 期 刊： 光譜學(xué)與光譜分析 ISTICEISCIPKU Journal： Spectroscopy and Spectral Analysis 年，卷(期)： 2011, 31(9) 分類號(hào)： O657.3 關(guān)鍵詞： 輝光放電原子發(fā)射光譜儀 深度輪廓分析 激光測(cè)量 實(shí)時(shí)深度測(cè)量 輝光放電 鍍層 機(jī)標(biāo)分類號(hào)： O65 O73 機(jī)標(biāo)關(guān)鍵詞： 輝光放電光譜 深度分析 激光位移傳感器 實(shí)時(shí)測(cè)量 新方法 Analysis Depth Profile Laser Measurement Determination Method 濺射 測(cè)量系統(tǒng) 原子發(fā)射光譜儀 合金標(biāo)準(zhǔn)樣品 設(shè)計(jì)方案 測(cè)量曲線 表面化學(xué)成分 表面形貌儀 文章 位移現(xiàn)象 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證 基金項(xiàng)目： 國(guó)家科技部科學(xué)儀器設(shè)備升級(jí)改造專項(xiàng)課題【一種用于輝光放電光譜深度分析的激光實(shí)時(shí)測(cè)量新方法】相關(guān)文章：
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