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Xe-N2O復合物的分子間勢能面和振轉(zhuǎn)光譜的理論研究
采用CCSD(T)方法研究了范德華分子體系Xe-N2O復合物的勢能面和振轉(zhuǎn)光譜性質(zhì).研究表明,該勢能面有兩個極小點,分別對應T構(gòu)型和線性Xe-ONN構(gòu)型.采用離散變量表象和Lanczos算法計算了體系的振轉(zhuǎn)能級.計算結(jié)果表明,CCSD(T)勢能面支持97個振動束縛態(tài),并對能級進行了指認.計算得到的Xe-N2O轉(zhuǎn)動躍遷頻率與實驗值吻合得很好.
謝代前(四川大學化學學院,成都,610064;南京大學理論與計算化學研究所,化學系,南京,210093)
刊 名： 化學學報 ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA CHIMICA SINICA 年，卷(期)： 2004 62(1) 分類號： O6 關(guān)鍵詞： Xe-N2O 勢能面 振轉(zhuǎn)能級 躍遷頻率【Xe-N2O復合物的分子間勢能面和振轉(zhuǎn)光譜的理論研究】相關(guān)文章：
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