ICP-MS法測定電子級高純異丙醇中痕量金屬雜質

ICP-MS法測定電子級高純異丙醇中痕量金屬雜質

用電感耦合等離子體-質譜(ICP-MS)的標準狀態(tài)(STD)和冷焰狀態(tài)(PS)測定電子級高純異丙醇中的18個痕量金屬雜質,用銦作內標可補償基體效應.方法檢出限為0.1×10-12～100×10-12,加標回收率為80%～120%,長時間相對標準偏差(RSD)小于7%.ICP-MS測定結果與ICP光譜測定結果基本一致,但ICP-MS提高了分析的準確性和工作效率.

作 者： 孟蓉 鄭春麗 童淑麗   作者單位： 北京化學試劑研究所,北京,100022  刊 名： 化學試劑  ISTIC PKU 英文刊名： CHEMICAL REAGENTS  年，卷(期)： 2004 26(5)  分類號： O656.31  關鍵詞： 電子級高純異丙醇   ICP-MS   痕量金屬雜質  

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