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航天電子元器件環(huán)境應(yīng)力篩選探究
環(huán)境應(yīng)力篩選是電子產(chǎn)品使用最廣、最有效的一種可靠性試驗(yàn)方法.本文探討了某航天電子元器件在環(huán)境應(yīng)力篩選過程中存在的主要問題及其解決方法.包括環(huán)境應(yīng)力篩選的實(shí)施原則,篩選項(xiàng)目的確定,失效元器件分析情況及失效元器件的處理等問題.
作 者： 劉芳 作者單位： 上海航天技術(shù)基礎(chǔ)所,上海,201109 刊 名： 現(xiàn)代企業(yè)教育 英文刊名： MODERN ENTERPRISE EDUCATION 年，卷(期)： 2009 ""(4) 分類號(hào)： V4 關(guān)鍵詞： 電子元器件 環(huán)境應(yīng)力篩選 探究【航天電子元器件環(huán)境應(yīng)力篩選探究】相關(guān)文章：
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