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電子元器件質(zhì)量一致性檢驗
電子元器件質(zhì)量一致性檢驗是指我國按國際電工委員會電子元器件質(zhì)量評定體系（簡稱IECQ）適用標準的規(guī)定，開展對電子元器件產(chǎn)品質(zhì)量認證所進行的鑒定批準程序中的一種檢驗方式。下面是小編整理的電子元器件質(zhì)量一致性檢驗，希望大家喜歡。
電子元器件質(zhì)量一致性檢驗
一、電子元器件逐批檢驗技術
逐批檢驗是對每個提交的檢驗批的產(chǎn)品批質(zhì)量，通過全檢或抽檢，判斷其生產(chǎn)批是否符合規(guī)定要求而進行的一種檢驗。其主要內(nèi)容包括：檢驗批的構成與抽樣要求；逐批檢驗項目和方法方式；抽樣檢驗方案的選擇和確定；逐批檢驗結果判定及處置。
1.檢驗批的構成與抽樣要求
�。�1）批的構成：在逐批檢驗中，檢驗批是一組依據(jù)一個或多個樣本而確定是否接收的單位產(chǎn)品的集合。它不一定等于生產(chǎn)批、購置批或者為其它目的而組成的批。通常每個檢驗批應由同型號、同等級、同種類、同尺寸、同結構且生產(chǎn)時間和生產(chǎn)條件大體相同的產(chǎn)品組成。
（2）抽樣的隨機性和代表性：從提交檢驗批的產(chǎn)品中，抽樣應是隨機的，應使提交檢驗批中每單位產(chǎn)品被抽到的可能性都相等。且應注意樣本的代表性，當提交檢驗批分若干層（或分裝于若干箱等）時，就應分層（或分箱、分袋）抽取樣本。
2.逐批檢驗項目和方法方式
�。�1）逐批檢驗主要項目：（A）外觀檢驗；（B）尺寸檢驗；（C）電特性檢驗；（D）可焊性；（E）其他檢驗。
�。�2）檢驗方法方式：對具體元器件產(chǎn)品，按照其詳細規(guī)范，分規(guī)范，總規(guī)范，基礎規(guī)范及相關標準中規(guī)定的檢查方法進行檢驗。逐批檢驗按檢驗方式可分為全數(shù)檢驗和抽樣檢驗，全數(shù)檢驗即對一批待檢產(chǎn)品進行100%的檢驗，抽樣檢驗是根據(jù)預先確定的抽樣方案，從一批產(chǎn)品中隨機抽取一部分樣品進行檢驗。在電子元器件產(chǎn)品逐批檢驗過程中，廣泛使用的常為抽樣檢驗。
3.抽樣檢驗方案的選擇和確定
逐批檢驗分A組和B組。電子器件的抽樣檢驗方案，A組選擇AQL方案或LTPD方案，B組選擇LTPD方案。電子元件（電阻器、電容器、電感器）的抽樣檢驗方案，A組、B組均選擇AQL方案。其中AQL為接收質(zhì)量限，LTPD為批允許不合格品率。
�。�1）AQL抽樣方案的確定方法：根據(jù)產(chǎn)品標準規(guī)定的檢查水平IL和接收質(zhì)量限AQL值，由GB/T2828.1-2012《計數(shù)抽樣檢驗程序第一部分：按接收質(zhì)量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃》中規(guī)定的檢索方法，對逐批檢驗的批量數(shù)N，查出A組和B組逐批檢驗項目的合格判定數(shù)Ac、不合格判定數(shù)Re和檢驗樣品量n。簡言之，根據(jù)給出檢查水平IL和AQL值，和批量數(shù)N，就可確定一個抽樣方案，以正常檢查一次抽樣為例，可得出抽樣方案（n，Ac，Re）。
�。�2）LTPD抽樣方案的確定方法：根據(jù)產(chǎn)品標準規(guī)定的LTPD值，每個分組的樣品量，由GB/T4589.1-2006《半導體器件第10部分分立器件和集成電路總規(guī)范》附錄A的表中查得，可以根據(jù)規(guī)定或實際需要選取多個規(guī)定數(shù)量的樣品量，但允許的不合格品數(shù)，不得超過表A.1或表A.2所規(guī)定的樣品量相應的合格判定數(shù)。表A.2中確定樣品量的LTPD列，應是最接近實際提交批量欄中的那一列，如果實際批量是介于表中兩欄之間，可根據(jù)需要在兩欄中選一欄。如果在表A.2相應的批量欄中，找不到等于或小于規(guī)定的LTPD值時，應用表A.2中相應批量欄中最接近的LTPD值確定樣品量。
4.逐批檢驗結果判定及處理
�。�1）對AQL抽樣方案，以一次抽樣正常檢查水平Ⅱ級為例，根據(jù)對樣本實施的檢驗結果，若樣本n中的不合格品數(shù)d小于或等于合格判定數(shù)Ac，即：d≤Ac時，判該檢驗批合格，若d≥Re時，則判該檢驗批不合格。
在產(chǎn)品標準規(guī)定的檢驗周期內(nèi)，周期檢驗合格的情況下，經(jīng)逐批檢驗合格的產(chǎn)品，可作為合格產(chǎn)品交付給訂貨方；對初次檢驗不合格的批，一般退回制造部門進行全數(shù)檢查，剔除不合格品后，再重新提交逐批檢驗，對再次提交檢驗的批，使用的抽樣方案的嚴酷度和檢驗項目，應在產(chǎn)品技術標準中或合同中明確規(guī)定，對再次提交檢驗仍不合格的批，除非有特別規(guī)定，一般不允許再次提交檢驗。
�。�2）對LTPD抽樣方案，第一次抽樣時選定一個合格判定數(shù)，并根據(jù)規(guī)定的LTPD值確定相應的樣品量n進行檢驗，如果樣品中出現(xiàn)的不合格品數(shù)d不超過預先選定的合格判定數(shù)C，即：d≤C 則判該批產(chǎn)品檢驗合格；如果出現(xiàn)的不合格品數(shù)超過預選的合格判定數(shù)，即：d>C時可確定一個追加樣品量，即在原有的樣品的基礎上追加一定的樣品量，但每一檢驗分組只能追加一次，且追加的樣品應經(jīng)受該分組所包括的全部試驗�？偟臉悠妨浚ㄗ畛醯募由献芳拥臉悠妨浚⿷鶕�(jù)GB4589.1-2006標準表A.1和A.2中新選定的合格判定數(shù)確定，如果總的不合格數(shù)（最初樣品加上追加樣品中的不合格數(shù)）不超過新確定的合格判定數(shù)，則判該檢驗批合格，否則判該檢驗批不合格。
不符合A組和B組檢驗要求的檢驗批，不得作為合格批。如果對此不合格批未被重新提交檢驗，則該批判為拒收批。
二、電子元器件周期檢驗技術
周期檢驗是在規(guī)定的周期內(nèi)，從逐批檢驗合格的某個批或若干批中抽取樣本，并施加各種應力的各項試驗，然后檢測產(chǎn)品判斷其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗。其主要內(nèi)容包括：周期規(guī)定、檢驗分組和樣品；檢驗項目和程序；周期檢驗缺陷分類和失效判據(jù)；周期檢驗結果判定和處置。
1.周期規(guī)定、檢驗分組和樣品
�。�1）檢驗周期規(guī)定：根據(jù)產(chǎn)品的特性及生產(chǎn)過程質(zhì)量穩(wěn)定的情況，再綜合考慮其他的因素，適當?shù)匾?guī)定檢驗周期。產(chǎn)品標準中一般都給出了該產(chǎn)品在正常穩(wěn)定生產(chǎn)情況下進行周期檢驗的時間間隔（如三個月，六個月，一年等），但對不同的檢驗組，規(guī)定不同的檢驗周期。
�。�2）檢驗分組與樣品：電子元器件周期檢驗分為C組和D組，C組為環(huán)境試驗，D組為耐久性壽命試驗。周期檢驗的樣品，應根據(jù)產(chǎn)品標準中規(guī)定的抽樣方案和檢查水平及規(guī)定的樣品數(shù)，從本周期內(nèi)經(jīng)逐批檢驗合格的一個批或幾個批中隨機抽取，加倍或二次試驗的樣品在抽樣時一次取足。
2.檢驗項目
�。�1）常溫性能檢查：試驗前在正常工作的條件下，對被試樣品進行定性和定量檢查，判斷產(chǎn)品質(zhì)量是否全面符合產(chǎn)品技術標準和國家標準要求，或符合訂貨合同的規(guī)定。由于電子產(chǎn)品種類多，用途廣，表征產(chǎn)品特性的技術參數(shù)很多，常溫性能檢測時，應嚴格按照技術標準規(guī)定，進行全部指標或部分指標檢測，檢測合格的產(chǎn)品方可進行周期檢驗項目中的其他項目的試驗。
�。�2）環(huán)境試驗：為了評價在規(guī)定周期生產(chǎn)批的產(chǎn)品的環(huán)境適應能力，將經(jīng)過性能檢測合格的產(chǎn)品，在人工模擬的環(huán)境條件下試驗，以此評價產(chǎn)品在實際使用、運輸和貯存環(huán)境條件下的性能是否滿足產(chǎn)品定型鑒定檢驗時達到的環(huán)境適應能力。
環(huán)境試驗包括高溫負荷貯存試驗、低溫負荷貯存試驗、高低溫變化試驗、交變濕熱和恒定濕熱試驗、低氣壓試驗、振動試驗、沖擊碰撞、跌落、加速度試驗、鹽霧試驗等。由于電子產(chǎn)品使用環(huán)境不一樣，在周期環(huán)境試驗中，規(guī)定的環(huán)境試驗項目可能是單項試驗，也可能是組合或綜合試驗。
3.周期檢驗結果判定和處置
（1）在一個周期試驗組中發(fā)現(xiàn)一個致命缺陷，則判該試驗組不合格。
�。�2）若在試驗樣品中發(fā)現(xiàn)的不合格品數(shù)小于或等于合格判定數(shù)，則判該試驗組合格。若試驗中的不合格判定數(shù)大于或等于不合格判定數(shù)，則判該試驗組不合格。
�。�3）本周期內(nèi)，所有試驗分組都合格，則本周期檢驗合格。否則就判該周期檢驗不合格。
�。�4）周期檢驗不合格，該產(chǎn)品暫停逐批檢驗。已生產(chǎn)的產(chǎn)品和已交付的產(chǎn)品由供需雙方協(xié)商解決，并將處理經(jīng)過記錄在案。
（5）周期檢驗不合格，供方應立即查明原因，采取措施。需方在供方采取改進措施后，在重新提交的產(chǎn)品中抽樣，對不合格試驗項目或試驗分組重新試驗，直至試驗合格后，供方才能恢復正常生產(chǎn)和逐批試驗。
電子元器件質(zhì)量一致性檢驗結果是通過逐批檢驗結果和周期檢驗結果是否合格來判定的。逐批與周期檢驗結果合格，可認為該元器件的鑒定批準得以維持。但如果檢驗不合格，即沒有通過質(zhì)量一致性檢驗，或沒有正確地執(zhí)行標準規(guī)范要求和IECQ的程序規(guī)則時，則鑒定批準應予暫�；虺废�。
總而言之，逐批檢驗的抽樣檢驗方式在電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)檢驗中廣泛采用，正確掌握和使用抽樣檢驗技術，對生產(chǎn)實際過程的產(chǎn)品質(zhì)量控制有很直接明顯的作用。周期檢驗對產(chǎn)品的質(zhì)量在模擬的環(huán)境條件下進行試驗檢查。產(chǎn)品標準規(guī)定了各種試驗項目和所采用的試驗方法及檢測技術，從而為產(chǎn)品質(zhì)量一致性和穩(wěn)定性提供保證。通過由逐批檢驗和周期檢驗所構成的質(zhì)量一致性檢驗，能客觀全面地反映產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中和各種不同使用環(huán)境條件下的質(zhì)量狀況，從而達到在生產(chǎn)過程中控制產(chǎn)品質(zhì)量并在規(guī)定的周期內(nèi)，保證產(chǎn)品質(zhì)量保持在鑒定批準時達到的質(zhì)量水平。
電子元器件質(zhì)量一致性檢驗
電子元器件的質(zhì)量一致性檢驗又分為逐批檢驗和周期檢驗，是生產(chǎn)企業(yè)為了保證生產(chǎn)產(chǎn)品的質(zhì)量一致性而進行的質(zhì)量控制方式。一般是由生產(chǎn)或研制單位自行實施，也可在客戶指定的實驗室進行。
1.逐批檢驗
逐批檢驗是為了判斷每個提交檢驗批的批質(zhì)量是否符合產(chǎn)品規(guī)定的要求，從檢驗批中抽取樣本所進行的檢驗，采用的抽樣程序及抽樣表按GB2828或GJB179，或產(chǎn)品標準規(guī)定的抽樣方法進行抽樣檢驗。
2.周期檢驗
周期檢驗是為了判斷在規(guī)定的周期內(nèi)生產(chǎn)過程的穩(wěn)定性是否符合規(guī)定要求，從逐批檢驗合格的一個批或多個批中抽取樣本所進行的檢驗，采用的抽樣程序及抽樣表按GB2829，或產(chǎn)品標準規(guī)定的抽樣方法進行抽樣檢驗。
當生產(chǎn)單位實施了統(tǒng)計過程控制(SPC)等質(zhì)量控制手段時，在鑒定機構的許可下，可不進行質(zhì)量一致性檢驗。
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