電測(cè)深反射系數(shù)法及其應(yīng)用

電測(cè)深反射系數(shù)法及其應(yīng)用

首先簡(jiǎn)要介紹電阻率測(cè)深解釋推斷方法之一--反射系數(shù)法的基本原理和實(shí)際應(yīng)用中各參數(shù)的計(jì)算方法;其次介紹作者針對(duì)該方法在測(cè)量視電阻率時(shí)使用的供電極距進(jìn)行的一點(diǎn)改進(jìn)及其優(yōu)點(diǎn);最后介紹作者在地質(zhì)找礦、地下水勘察等方面的應(yīng)用實(shí)例.

作 者： 李光輝 梁樹昌 Li Guanghui Liang Shuchang   作者單位： 李光輝,Li Guanghui(中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(北京)北京,100083;黑龍江省第一地質(zhì)勘察院,黑龍江牡丹江,157011)

梁樹昌,Liang Shuchang(黑龍江省第一地質(zhì)勘察院,黑龍江牡丹江,157011) 

刊 名： 地質(zhì)裝備  英文刊名： EQUIPMENT FOR GEOTECHNICAL ENGINEERING  年，卷(期)： 2009 10(2)  分類號(hào)： P634  關(guān)鍵詞： 電測(cè)深   反射系數(shù)   電阻率   應(yīng)用  

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