Nd∶YAG激光晶體單程損耗的研究

Nd∶YAG激光晶體單程損耗的研究

本文對導致Nd∶YAG激光晶體單程損耗的原因進行了分析,并建立了一套精確測量Nd∶YAG激光晶體單程損耗系數(shù)的測試系統(tǒng).選用了與以往測量損耗系數(shù)方法不同的測試思路.通過該系統(tǒng)可直接測量激光工作波長單次通過Nd∶YAG 晶體時所引起的光損耗.文中對測試物理過程及數(shù)學模型的建立進行了闡述,并分析了端面反射率對測試結果的影響;研究了各種生長缺陷對激光工作波長所造成的損耗;討論了測試不同通光面晶體損耗的方法;并實現(xiàn)了計算機全過程的自動數(shù)據采集及處理.

作 者： 朱建慧 徐學珍 姚廣濤 張韶光   作者單位： 北京奧依特科技有限公司,北京,100015  刊 名： 人工晶體學報  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS  年，卷(期)： 2002 31(6)  分類號： O734  關鍵詞： Nd∶YAG   單程損耗   生長缺陷   雙光路測量   端面反射率  

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