高精度A/D采樣電路的干擾分析與電路設(shè)計

高精度A/D采樣電路的干擾分析與電路設(shè)計

分析了A/D采樣電路的特點及干擾形式,總結(jié)了高精度A/D采樣電路的PCB設(shè)計規(guī)則,完整設(shè)計了一個基于CPLD和ADS7809的高精度A/D采樣電路,應(yīng)用結(jié)果表明,該高精度采樣電路板抗干擾能力強,工作穩(wěn)定,采樣精度符合設(shè)計要求.

作 者： 何華鋒 胡昌華 代延民 HE Hua-feng HU Chang-hua DAI Yan-min   作者單位： 第二炮兵工程學(xué)院,陜西,西安,710025  刊 名： 電光與控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2005 12(5)  分類號： V271.4 TN911  關(guān)鍵詞： 干擾分析   A/D采樣   電路設(shè)計  

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